判斷光耦的好壞，可在路測(cè)量其內(nèi)部二極管和三極管的正反向電阻來(lái)確定。更可靠的檢測(cè)方法是以下三種。
1、比較法拆下懷疑有問(wèn)題的光耦，用萬(wàn)用表測(cè)量其內(nèi)部二極管、三極管的正反向電阻值，用其與好的光耦對(duì)應(yīng)腳的測(cè)量值進(jìn)行比較，若阻值相差較大，則說(shuō)明光耦已損壞。
2、數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)法下面以EL817光耦檢測(cè)為例來(lái)說(shuō)明數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)的方法，檢測(cè)電路如圖1所示。檢測(cè)時(shí)將光耦內(nèi)接二極管的＋端{(lán)1}腳和－端{(lán)2}腳分別插入數(shù)字萬(wàn)用表的Hfe 的c、e插孔內(nèi)，此時(shí)數(shù)字萬(wàn)用表應(yīng)置于NPN擋；然后將光耦內(nèi)接光電三極管C極{5}腳接指針式萬(wàn)用表的黑表筆，e極{4}腳接紅表筆，并將指針式萬(wàn)用表?yè)茉赗X1k擋。這樣就能通過(guò)指針式萬(wàn)用表指針的偏轉(zhuǎn)角度——實(shí)際上是光電流的變化，來(lái)判斷光耦的情況。指針向右偏轉(zhuǎn)角度越大，說(shuō)明光耦的光電轉(zhuǎn)換效率越高，即傳輸比越高，反之越低；若表針不動(dòng)，則說(shuō)明光耦已損壞。
3、光電效應(yīng)判斷法仍以EL817光耦合器的檢測(cè)為例，檢測(cè)電路如圖2所示。將萬(wàn)用表置于RX1k電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端{(lán)4}、{5}腳；然后用一節(jié)1．5V的電池與一只50～100Ω的電阻串接后，電池的正極端接EL817的{1}腳，負(fù)極端碰接{2}腳，或者正極端碰接{1}腳，負(fù)極端接{2}腳，這時(shí)觀察接在輸出端萬(wàn)用表的指針偏轉(zhuǎn)情況。如果指針擺動(dòng)，說(shuō)明光耦是好的，如果不擺動(dòng)，則說(shuō)明光耦已損壞。萬(wàn)用表指針擺動(dòng)偏轉(zhuǎn)角度越大，表明光電轉(zhuǎn)換靈敏度越高。
光耦

用兩個(gè)萬(wàn)用表就可以測(cè)了。光電耦合器由發(fā)光二極管和受光三極管封裝組成。如光電耦合器4N25，采用DIP-6封裝，共六個(gè)引腳，①、②腳分別為陽(yáng)、陰極，③腳為空腳，④、⑤、⑥腳分別為三極管的e、c、b極。

以往用萬(wàn)用表測(cè)光耦時(shí)，只分別檢測(cè)判斷發(fā)光二極管和受光三極管的好壞，對(duì)光耦的傳輸性能未進(jìn)行判斷。這里以光耦4N25為例，介紹一種測(cè)量光耦傳輸特性的方法。判斷發(fā)光二極管好壞與極性：用萬(wàn)用表R×1k擋測(cè)量二極管的正、負(fù)向電阻，正向電阻一般為幾千歐到幾十千歐，反向電阻一般應(yīng)為∞。測(cè)得電阻小的那次，紅筆接的是二極管的負(fù)極。